Z-Platform 是什么？
Semtech 的 Z-Platform 是一个专有的电路保护技术平台，旨在提供出色的电路保护，以免消费者和便携式电子设备受到静电放电 (ESD) 和过压的危害。 Semtech 的 Z-Platform 的性能标准远远超出了业界严苛的 ESD 抗扰度要求，能帮助客户成功顺利完成产品上市。 随着当今的集成电路晶体管尺寸不断缩小，Z-Platform ESD 防护设备可提供行业领先的 ESD 防护裕度，甚至可以保护非常敏感的数据电路。
使用 Z-Platform 技术
Semtech 的 Z-Platform 利用多种强化技术来降低设备电容和 ESD 钳位电压，提高浪涌抗扰度，同时提供业界首屈一指的高效封装设计。 此设备平台优化了 ESD 和浪涌电压钳位性能，但使用的 PCB 空间却只是传统瞬变电压抑制 (TVS) 设备所需的很小一部分。
最小电容
由于当今的高速数字接口经常遭遇外部 ESD 事件，保护这些设备的 TVS 必须拥有非常低的 ESD 钳位和超低的结电容。 高速数据接口非常灵敏，甚至可感知接口上结电容低于 1 微微法拉 (pF) 的增加。 Z-Platform ESD 防护设备采用先进的工艺来实现固有的低 TVS 结电容。 依靠 Semtech 的新型先进处理技术而实现的低电容可确保最终产品设计的信号完整性得以保留。
改善信号完整性
常用的测量工具为眼图测试。 此测试用于验证组件对接口信号完整性的影响。 该图表显示的是一项眼孔图样的测试，Semtech Z-Platform 设备正在其中保护新款的 Thunderbolt 收发器。 因此，这种 TVS 可以保护每通道以 20 Gbps 速率传输数据的接口。 如图所示，测试掩码周围开放的眼孔图样验证结果是 TVS 不会对信号完整性造成负面影响。
ESD 钳位性能
让 Z-Platform 脱颖而出的重要性能指标正是这些设备可以实现的 ESD 钳位电压。 评估 ESD 钳位性能所用的一种测试方法为传输线脉冲 (TLP) 测试。 将红色的钳位曲线向左侧明显移动，即可看到 TLP 图像中 ESD 钳位的显著改善。 借助 Z-Platform，可实现近乎垂直的 TLP 曲线，从而实现超低的动态电阻 (Rdyn)，动态电阻是一种衡量 TVS 设备钳住 ESD 瞬变效率的方法。 Z-Platform 卓越的 ESD 钳位性能为设计人员提供防护组件，还能为市场上非常敏感的数据收发器提供保护。
更佳的浪涌处理能力
除了保护免受 ESD 瞬变外，消费性电子设备还需要具有强大的浪涌抗扰度。 当今的便携式电子设备可能会遭遇来自不兼容充电源的造成的强大电流瞬变。 为了保护这些设备免受不兼容电源的影响，Z-Platform 提供了浪涌处理能力更出色的防护设备。 从图中可以看出，Z-Platform 设备可将浪涌瞬变显著降低至更安全的水平，同时尽可能地减少 PCB 空间的使用。
